ACFE JAPAN Conference #1

2010年10月23日 | By 縄田 直治 | Filed in: 不正.

2010年10月13日品川にて標記が開催された。http://www.acfe.jp/j_conf.html
午前が無料セッションで、ACFE会員による任意の研究団体(東京不正研究会、関西不正研究会、不正早期発見研究会)による発表が行われた。
午後は、ゲストによる講演とパネルディスカションという内容で、いずれも充実した会議であったという印象だ。

同じマンションに住む会計士の人や、学生時代のゼミの仲間に会ってしまったのは、この話題がかなり広い範囲で取り扱われていることの現われと見た。

スポンサー出展も含めて、もっとも印象に残っているのは、やはりCAATを用いた不正検査である。これはゲストの金融庁佐々木課長もしきりに強調されていたが、あらゆる不正の証拠はITの中に眠っているので、もはやIT抜きに不正検査はありえないし、ITを使わなければ膨大なデータを取り扱うことすらできない。出展者もIDEAやACLといったCAATツールを用いて不正検査をするサービスを売り込んでいた。

さて監査の世界はいつのまにやら周回遅れを呈しているが、どこまで追いついていけるのか、相当覚悟を決めた努力をしなければならない。

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